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小小探针3D打印造，探测间距低于20μm，开启高精度时代
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视频介绍

从晶圆检测、芯片封测、集成电路测试、各类模组测试，每个环节的质量检测和产品良率控制都离不开测试探针。但你知道吗，这个价值5000亿美元的行业却受限于测试间距低于40μm的元件的能力。这种限制阻碍了芯片的设计和扩展，而芯片设计和扩展是满足日益增长消费需求所必需的。近日

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