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科研利器：飞行时间二次离子质谱，从原理开始深度掌握
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TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry），飞行时间二次离子质谱，也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。它结合了飞行时间和二次离子质谱的优点，具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能，是目前高技术领域广泛使用的分析技术。
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