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科研利器:飞行时间二次离子质谱,从原理开始深度掌握
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TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry),飞行时间二次离子质谱,也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。它结合了飞行时间和二次离子质谱的优点,具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。
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