可对各种多晶材料进行3D成像，蔡司这次推出的晶体学CT系统太“秀”了

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视频介绍

近日消息，蔡司推出了Xradia CrystalCT微计算机断层扫描（microCT）系统，可对工业和学术实验室中的各种金属和合金、增材制造、陶瓷和制药样品的多晶材料进行3D晶体学成像。这种新型microCT系统是在传统的计算机断层扫描系统上，增加了衍射对比断层扫描（DCT），使研究人员可以在三个维度上，用晶体学信息来补充吸收对比断层扫描数据。无缝的大体积晶粒映射，与传统的破坏性3D晶体学方法相比，增加了数据量的表示性，其先进的采集模式有助于实现快速，准确的3D晶粒数据的无针距扫描。先进的扫描模式进一步消除了高生产率实验室环境中各种普通样品的尺寸和采集速度的限制。运行更大样本量的能力消除了实验室中的限制，从而实现了更多样本类型和更少的准备时间，从而缩短了分析时间。更快的采集速度可缩短样品运行时间，从而提高实验室生产率。对金属等材料的晶粒结构进行成像，并量化其潜在的晶体学取向的能力，有助于理解和优化材料性能。microCT成像的非破坏性特性促进了对原位微结构演变的理解，从而表征了热，机械或环境条件对材料行为的影响。这些研究有助于评估新型，更轻和更坚固的高级材料的性能和耐用性，并解决诸如功能性，安全性和改进的经济性等问题。DCT成像以前只能通过同步加速器获得，直到在蔡司Xradia 620 Versa 3D X射线显微镜上作为扩展模块提供为止。除了作为DCT平台之外，蔡司Xradia CrystalCT还是一流的microCT成像系统，可为各种3D成像需求提供出色的分辨率和图像质量。它建立在高度稳定的蔡司Xradia Versa基础上，我想说蔡司这波操作真的太“秀”了。