材料表面成分信息分析有它足矣,X射线光电子能谱
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X射线光电子能谱,X-ray photoelectron spectroscopy(XPS),是重要的表面分析技术之一,是由瑞典Kai M.Siegbahn教授领导的研究小组创立的,并于1954年研制出世界上第一台光电子能谱仪。 从该技术的名字中容易看出它的核心在于三点:X射线、光电子、能谱,实际也正是如此。
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